GB/T 14025-1992 半导体集成电路门阵列电路系列和品种ECL系列的品种

作者:标准资料网 时间:2024-05-23 03:06:28   浏览:8177   来源:标准资料网
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基本信息
标准名称:半导体集成电路门阵列电路系列和品种ECL系列的品种
英文名称:Series and products for semiconductor gate array integrated circuits-Products of series ECL
中标分类: 电子元器件与信息技术 >> 微电路 >> 半导体集成电路
ICS分类: 电子学 >> 集成电路、微电子学
替代情况:作废;
发布部门:国家技术监督局
发布日期:1992-01-02
实施日期:1993-08-01
首发日期:1992-12-17
作废日期:2005-10-14
主管部门:信息产业部(电子)
归口单位:全国半导体器件标准化技术委员会
起草单位:机电部十二四所无锡分所
出版日期:1900-01-01
页数:平装16开, 页数:64, 字数:122千字
适用范围

本标准规定了半导体集成电路ECL门阵列电路的名称、最小条宽、布线层数、等效门数、输入/输出端数、单门传输延迟时间、最高工作频率、单门典型功耗、封装形式、温度范围、电源电压范围、接口电平等主要特性和宏单逻辑结构。器件的质量应符合器件详细规范的规定。本标准适用于生产(研制)或使用器件时的选型。若无特殊说明,本标准涉及的宏单逻辑均为正逻辑。

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所属分类: 电子元器件与信息技术 微电路 半导体集成电路 电子学 集成电路 微电子学
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【英文标准名称】:StandardTestMethodforInterstitialAtomicOxygenContentofSiliconbyInfraredAbsorptionwithShortBaseline
【原文标准名称】:用短基线红外线吸收法测定硅中填隙原子氧含量的标准试验方法
【标准号】:ASTMF1188-2002
【标准状态】:作废
【国别】:美国
【发布日期】:2002
【实施或试行日期】:
【发布单位】:美国材料与试验协会(ASTM)
【起草单位】:ASTM
【标准类型】:()
【标准水平】:()
【中文主题词】:硅;分析;含氧量;红外设备;试验
【英文主题词】:oxygencontent;testing;infraredplants;analysis;silicon
【摘要】:
【中国标准分类号】:H82
【国际标准分类号】:29_045
【页数】:9P;A4
【正文语种】:英语


Product Code:SAE AMS2281
Title:Trace Element Control, Nickel Alloy, Cobalt Alloy, and Iron Alloy Wrought Products, for High-Temperature, High-Stressed Applications
Issuing Committee:Ams F Corrosion Heat Resistant Alloys Committee
Scope: This specification establishes maximum permissible limits for elements not normally specified but which may occur in trace amounts in wrought nickel, cobalt, and iron alloy products. Primarily for highly-stressed rotating parts, such as turbine discs, where control of trace elements is required to maintain elevated-temperature tensile, stress-rupture, creep, and low-cycle fatigue properties. It is intended that this specification be invoked only for selected applications by stipulation on drawings, purchase orders, or other documentation supplementing the material specification, or in material specifications. This specification covers four classes of trace element control, defined by the elements to be controlled as follows: Class 1 - Lead, Bismuth; Class 2 - Lead, Bismuth, Selenium; Class 3 - Lead, Bismuth, Selenium, Silver, Tin; Class 4 - Lead, Bismuth, Selenium, Silver, Tin, Thallium, Tellurium, Arsenic. When trace element control is required, the elements to be controlled shall be indicated by this specification number and the appropriate class number. For example, AMS 2281, Class 1 will indicate that control of lead and bismuth is required.