IEC 60749-4 Corrigendum 1-2003 半导体器件.机械和气候试验方法.第4部分:湿热、稳态、高加速应力试验
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时间:2024-05-14 03:07:51
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【英文标准名称】:Semiconductordevices-Mechanicalandclimatictestmethods-Part4:Dampheat,steadystate,highlyacceleratedstresstest(HAST)
【原文标准名称】:半导体器件.机械和气候试验方法.第4部分:湿热、稳态、高加速应力试验
【标准号】:IEC60749-4Corrigendum1-2003
【标准状态】:现行
【国别】:国际
【发布日期】:2003-08
【实施或试行日期】:
【发布单位】:国际电工委员会(IEC)
【起草单位】:IEC/TC47
【标准类型】:()
【标准水平】:()
【中文主题词】:气候;半导体器件;机械试验;电子工程;半导体;组件;集成电路;电学测量;环境试验;压力试验;湿热试验;气候试验;电气工程;电子设备及元件;试验
【英文主题词】:
【摘要】:
【中国标准分类号】:L40
【国际标准分类号】:31_080_01
【页数】:
【正文语种】:英语
【原文标准名称】:半导体器件.机械和气候试验方法.第4部分:湿热、稳态、高加速应力试验
【标准号】:IEC60749-4Corrigendum1-2003
【标准状态】:现行
【国别】:国际
【发布日期】:2003-08
【实施或试行日期】:
【发布单位】:国际电工委员会(IEC)
【起草单位】:IEC/TC47
【标准类型】:()
【标准水平】:()
【中文主题词】:气候;半导体器件;机械试验;电子工程;半导体;组件;集成电路;电学测量;环境试验;压力试验;湿热试验;气候试验;电气工程;电子设备及元件;试验
【英文主题词】:
【摘要】:
【中国标准分类号】:L40
【国际标准分类号】:31_080_01
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